**代:點測量 ——適合做物體表面誤差檢測 代表系統有:三坐標測量儀;點激光測量儀;關節臂掃描儀(精度不高)。通過每一次的測量點反映物體表面特征,優點是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在測量較規則物體上有優勢。
**代:線測量——適合掃描中小件物體,掃描景深小(一般只有5公分),精度較低,此系統是過渡性產品。 代表系統有:三維激光掃描儀,三維手持式激光掃描儀,關節臂+激光掃描頭。通過一段(一般為幾公分,激光線過長會發散)有效的激光線照射物體表面,再通過傳感器得到物體表面數據信息。
第三代:面掃描——適合大中小物體的掃描,精度較低,掃描速度極快(單面400×300mm 面積,時間≤5秒),測量景深很大,一般為300-500mm,甚至更大。 代表系統:三維掃描儀(結構光、光柵式掃描儀),三維攝影測量系統等。通過一組(一面光)光柵的位移,再同時經過傳感器而采集到物體表面的數據信息。
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