布魯克 推出電鏡用WDS及微焦斑X射線源新品

　XSense™ WDS可用于掃描電鏡(SEM)的元素分析。XSense™ WDS專為介于100和3600 eV的低能量分析而設計，其能量分辨率可低至4eV，可分辨緊鄰的X射線，以及微量元素檢測。

XTrace™微焦斑X射線源可用于掃描電鏡系統，并結合布魯克的能譜檢測器，實現微束X射線熒光分析。同電子束激發X射線光譜法進行元素分析相比，微束X射線熒光光譜儀的檢測下限要低20-50倍，尤其是對于中高能量范圍的光譜分析，增加了樣品中痕量元素分析的能力。

　　XSense WDS以及Xtrace微焦斑X射線源均可通過ESPRIT 2.0軟件進行操作。該軟件在同一個用戶操作界面集合了EDS, WDS, EBSD和微束XRF分析。ESPRIT2.0不僅能夠直觀的引導四個操作方法，而且還提供了四種分析數據間結合分析的可能性，以獲得更高的定量分析精度。

　　布魯克納米分析部門總裁Thomas Schülein表示：“隨著兩樣新產品的問世，我們現在可以為用戶提供****的選擇，大大提高他們的掃描電鏡的分析能力。作為我們用于微米級及納米級分析的QUANTAX系統的組成部分，這兩個新產品通過全光譜能量范圍的分析，用來提升掃描電鏡的分析特性和靈敏度度。 XSense WDS適用于低能量區，及輕元素的光譜分析，Xtrace特別適合用于中高能量區域的分析。我們非常自豪布魯克現在是**可以同時提供EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF and Micro-CT等5種技術的生產商。由于這些附件全部整合在我們的新型ESPRIT 2.0軟件集，研究人員現在可以通過軟件對這些方法的分析數據進行整合。現在我們的QUANTAX 系統已成為利用電鏡進行綜合材料表征的多功能分析工具包。”

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