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影响直读光谱仪射线强度的几个因素
影响
直读光谱仪
射线强度的几个因素
直读光谱仪
的定量分析是以荧光X射线的强度为依据的,影响光谱仪射线强度的因素会影响分析的准确度,以下是主要两大影响因素:
1、基体效应
基体效应包括吸收效应及增强效应。
吸收效应包括基体对入射X射线的吸收及对荧光X射线的吸收。因为用射线激发样品时,不只是作用于样品表面而且能穿透一定的厚度进入样品内部,而且样品内部分析元素产生的荧光X射线,也必须穿过一定厚度的样品才能射出。在穿透过程中,这两种X射线都会因基体元素的吸收而使射线强度减弱,射线减弱会影响对分析元素的激发效率。
如果入射X射线使基体元素激发所产生的荧光X射线的波长稍短于分析元素的吸收边,它会使分析元素产生二次荧光X射线,从而使分析元素的荧光X射线强度增强,这就是基体的增强效应。
如果吸收效应占主导地位,则分析结果偏低,如果增强效应占主导地位,则分析结果偏高。
2、不均匀效应
不均匀效应是指样品颗粒大小不均匀及样品表面光洁度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品,大颗粒吸收效应强,小颗粒吸收效应弱,因此,要求颗粒粒度尽量小一些,以减少对X射线的吸收。测短波X射线时,要求粒度在250目以上,测量波长大于0.2nm的长波x射线时,则粒度要求在400目以上。
固体块状试样一定要磨平抛光,粉末试样要压实并使表面平滑。粗糙表面会使荧光X射线的强度明显下降。测量短波X射线时,光洁度在1005m左右,测量长波X射线时,光洁度为20-50Mm.
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